高分辨率平板探测器 X 射线 CMOS成像板,F2923 为二维 CMOS X 射线平板探测器，具有高分辨率、 低噪声、大面阵、高帧率和宽动态范围等特点。综合应用派登斯的 CMOS 图像传感器设计技术及 ADC 集成一体化方案，产品结构紧凑，技术性能优良。基于其可靠性高、 易于集成等特点，可有效降低在苛刻环境中、重负荷应用下 对成像系统的校准和维护要求。

OmniScan SX便携式探伤仪存储装置SDHC卡，或大多数标准USB存储设备*数字化频率100 MHz100 MHz *为了获得好结果，建议使用Lexar®存储卡。

便携式探伤仪IP评级根据IEC 60529-2004标准（外壳防护等级–IP规范），仪器设计符合侵入保护评级标准：IP67（防尘且可短时浸入水中）和IP65 （防尘且可经受水喷）。

OmniScan MX2相控阵探伤仪电池数量1节或2节电池（电池舱内可容纳两个热插拔电池）。

相控阵探伤仪UT通道：9609个低通、321个带通和3165个高通滤波器（当配置为TOFD时，为65个低通滤波器）

NORTEC 600便携式涡流探伤仪滤波FIR低通、FIR高通、FIR带通、FIR带阻（截止频率可调）、中值滤波器（在2点～200点之间变化）、平均滤波器（在2点～200点之间变化 ）

MultiScan MS5800便携式涡流探伤仪所支持的探头支持所有带单励磁器、双励磁器、双拾波器，以及使用近场技术和漏磁技术的差分式和式探头。（可能需要适配器线缆）

便携式涡流探伤仪采集速率1 Hz～15 kHz（单线圈中）。 速率可由仪器处理能力限制，或通过多路激发模式的延迟设定所限制。