高分辨率平板探测器 X 射线 CMOS成像板

高分辨率平板探测器 X 射线 CMOS成像板

F2923-NDT 为二维 CMOS X 射线平板探测器，具有高分辨率、 低噪声、大面阵、高帧率和宽动态范围等特点。综合应用派登斯的 CMOS 图像传感器设计技术及 ADC 集成一体化方案，产品结构紧凑，技术性能优良。基于其可靠性高、 易于集成等特点，可有效降低在苛刻环境中、重负荷应用下 对成像系统的校准和维护要求。

 CMOS平板探测器有三款可以选择：F1512-NDT，    F2923-NDT，     F3035-NDT

产品特点

     精细像素     图像延迟小                  ADC 集成一体化结构     快速的模式切换 

     极低噪声     稳定的数据偏移校正     极宽动态范围                低功耗 

     高帧率        快速的网络数据接口     抗辐照

产品应用

     无损检测       高等院校       研究院所       材料科学       航空航天

高分辨率平板探测器 X 射线 CMOS成像板

上海玖横仪器有限公司是一家由多名无损检测技术销售团队组织成立，专业从事无损检测技术设备的研发、销售及技术服务于一体的企业。主要产品有：电磁超声高温腐蚀检测仪（高温腐蚀仪）、电磁超声探伤仪、超声波探伤仪、超声波测厚仪等检测仪器；同时代理国内国外超声波成像系统（TOFD、相控阵、水浸 C 扫描）和射线成像系统（CR/DR/实时成像系统）、汽车点焊分析仪、内窥镜检测设备及自动化检测设备等。